粒子計測器

Pentagon technologies 表面粒子計測器QIII ST/SM/SX

Pentagon technologiesの表面粒子計測器 QIIIシリーズは、電子産業における表面汚染の測定および品質管理のスタンダードとなっています。QIIIは先進的なインターフェイスを使用し、誰でも素早く簡単に粒子測定することが可能です。
表面パーティクルの管理基準を確立し、継続的改善を促進します。

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測定レンジ：0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0/ 5.0 μm
適用環境　：CRクラス100～1未満
測定用途　：半導体工場、半導体製造装置など

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測定レンジ：0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm
適用環境　：CRクラス10,000～1,000
測定用途　：液晶工場、精密機器製作など

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測定レンジ：5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm
適用環境　：CRクラス100,000以上
測定用途　：医療、食品、薬品、機械部品、サーバールーム製作など

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プローブオプション：
平面、筒形状、ガス配管、容器、エッジ部内面などを測定するための多様なプローブをラインナップ

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お問い合わせ

Q IIIに関するお問い合わせは、下記の入力フォームをご利用ください。お返事は翌日以降となりますので、お急ぎの場合にはお電話（ 0594-78-2801 ）グローバル営業部までお問い合わせください。お問い合わせの内容によっては、お返事にお時間をいただく場合やお返事を差し上げられない場合がございます。あらかじめご了承くださいますようお願いいたします。

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